平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如csi）的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm，平板尺寸大约45cm（18in）。读出速度大约3～7.5帧/s。优点是使用比较简单，ct检测报价，没有图像扭曲。图像接近于胶片照相，ct检测，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，对高能x 射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。在较高能量应用时，ct检测价格，必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kv以下的低能效果较好。
样品扫描系统形式上像一台没有刀具的数控机床，从本质上应当说是一个位置数据采集系统，从重要性来看，位置数据与射线探测器测得的射线强度数据并无什么不同。仅仅将它看成一个载物台是不够的。设计扫描系统时首先需要考虑的是检测样品的外形尺寸和重量，要有足够的机械强度和驱动力来---以一定的机械精度和运动速度来完成扫描运动。同时还要考虑，选择适合的扫描方式和几何布置，ct检测，确定对机械精度的要求，并对各部分的精度要求进行平衡。根据扫描和调试的要求选择合适的传感器以及在计算机软件中对扫描的位置参数作---的插值或修正等。
工业ct是在射线检测的基础上发展起来的，其基本原理是：让一束x射线投射在物体上，通过物体对x射线的吸收（多次投影）便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为i0的一个窄束x射线穿过吸收系数为的物体时，其强度满足指数衰减关系：
式中为x射线所穿过物质层厚度。在实际情况中，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。
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