工业ct常用的扫描方式是平移—旋转(tr)方式和只旋转(ro)方式两种。只旋转扫描方式无疑具有更高的射线利用效率，可以得到更快的成像速度；然而，射线ct检测方案，平移—旋转的扫描方式的伪像水平远低于只旋转扫描方式；可以根据样品大小方便地改变扫描参数（采样数据密度和扫描范围），北京射线ct检测，---是检测大尺寸样品时其性明显；源—探测器距离可以较小，提高信号幅度；以及探测器通道少可以降低系统造价便于维护等。
平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体（如csi）的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm，平板尺寸大约45cm（18in）。读出速度大约3～7.5帧/s。优点是使用比较简单，没有图像扭曲。图像接近于胶片照相，基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚，对高能x 射线探测效率低；难以解决散射和窜扰问题，使动态范围减小。在较高能量应用时，必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kv以下的低能效果较好。
一代ct使用单源(一条射线)单探测器系统，射线ct检测机构，系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得n个投影值(1值)，被检物则按m个分度作旋转运动，被检物仅需转动180%。代ct机结构简单、成本低、图像清晰，但检测效率低，在工业ct中已经很少采用。
二代ct是在第代ct基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头，射线ct检测公司，射线扇束角小、探测器数目少，因此扇束不能全包容被检断层，其扫描运动除被检物作m几个分度旋转外，射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物，得到所需的成像数据。
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