纳克-射线ct检测公司-射线ct检测

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    2023-9-27

刘经理
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ct检测射线源

在高能电子束转换为x射线的过程中,仅有小部分能量转换为x射线,大部分能量都转换成了热,焦点尺寸越小,阳极靶上局部功率密度越大,射线ct检测报价,局部温度也越高。实际应用的功率是以阳极靶可以长期工作所---受的功率密度确定的。因此,小焦点乃至微焦点的的射线源的使用功率或大电压都要比大焦点的射线源低。电子辐射发生器的共同缺点是x射线能谱的多色性,这种连续能谱的x 射线会引起衰减过程中的能谱硬化,射线ct检测,导致各种与硬化相关的伪像。



ct检测发展

一代ct使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得n个投影值(1值),被检物则按m个分度作旋转运动,被检物仅需转动180%。代ct机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业ct中已经很少采用。

二代ct是在第代ct基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头,射线扇束角小、探测器数目少,因此扇束不能全包容被检断层,其扫描运动除被检物作m几个分度旋转外,射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物,得到所需的成像数据。




ct检测x射线利用率

首先,ct系统的设计是否紧凑是一个---的因素。 这不仅仅影响机型的大小,射线ct检测公司,更重要的是它决定了x射线的利用率。众所周知,x射线(光子)会随着传播距离的增加而衰减,射线ct检测,并且基本上遵循衰减与距离的平方成反比的规律,换言之,x射线源与探测器之间的距离越长,x射线的利用率就越低。因此,将ct系统设计得越紧凑越好是首要的原则之一。




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