“贪大求高”。不少用户总希望ct系统能够检测尽可能大的样品，或者考虑到以后可能的发展，提出的大检测工件尺寸远远大于主要或经常需要检测的工件尺寸。购买者应当意识到，尺寸的加大一般都要带来成本的提高，购买者也应当明白这种增加的成本归根到底都是由购买者自己来承担的。购买者往往不大容易意识到的是：检测工件尺寸的增大总是要以技术指标的下降为代价的。
一代ct使用单源(一条射线)单探测器系统，系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得n个投影值(1值)，被检物则按m个分度作旋转运动，被检物仅需转动180%。代ct机结构简单、成本低、图像清晰，但检测效率低，在工业ct中已经很少采用。
二代ct是在第代ct基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头，射线ct检测公司，射线扇束角小、探测器数目少，因此扇束不能全包容被检断层，射线ct检测机构，其扫描运动除被检物作m几个分度旋转外，射线ct检测，射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物，射线ct检测，得到所需的成像数据。
应用闪烁体的分立探测器的主要优点是：闪烁体在射线方向上的---可以不受---，从而使射入的大部分光子被---，提高探测效率。尤其在高能条件下，可以缩短获取时间；因为闪烁体是独立的，所以几乎没有光学的窜扰；同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片，降低了x射线的窜扰。分立探测器的读出速度很快，在微秒量级。同时可以用输出脉冲来选通数据采集，限度减小信号上叠加的噪声。分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。
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