首先，ct系统的设计是否紧凑是一个---的因素。 这不仅仅影响机型的大小，更重要的是它决定了x射线的利用率。众所周知，x射线（光子）会随着传播距离的增加而衰减，并且基本上遵循衰减与距离的平方成反比的规律，换言之，ct检测，x射线源与探测器之间的距离越长，x射线的利用率就越低。因此，将ct系统设计得越紧凑越好是首要的原则之一。
面探测器主要有三种类型：高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为ccd和cmos。ccd对x射线不敏感，表面还要覆盖一层闪烁体将x射线转换成ccd敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数，ct检测报价，像素尺寸可小到10微米左右，探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸，一般直径在50mm以上。因为探测单元很小，信号幅度也很小，为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
同位素辐射源的优点是它的能谱简单，消耗电能少，设备体积小且相对简单，ct检测公司，而且输出稳定。但是其缺点是辐射源的强度低，ct检测价格，为了提高源的强度必须加大源的体积，导致“焦点”尺寸增大。在工业ct中较少实际应用。
同步辐射本来是连续能谱，经过单色器选择可以得到定向的几乎单能的高强度x射线，因此可以做成高空间分辨率的ct系统。但是由于射线能量为20kev到30kev，实际只能用于检测1mm左右的小样品，用于一些特殊的场合。
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