工业ct是在射线检测的基础上发展起来的，其基本原理是：让一束x射线投射在物体上，通过物体对x射线的吸收（多次投影）便可获得物体内部的物质分布信息。
当强度为i0的一个窄束x射线穿过吸收系数为的物体时，ct检测，其强度满足指数衰减关系：
式中为x射线所穿过物质层厚度。在实际情况中，所研究的物体往往不是由单一成分组成的，当物体由若干个不同成分组成时，物体内部各处的穿透率也将可能不同。
在高能电子束转换为x射线的过程中，仅有小部分能量转换为x射线，ct检测，大部分能量都转换成了热，ct检测价格，焦点尺寸越小，阳极靶上局部功率密度越大，局部温度也越高。实际应用的功率是以阳极靶可以长期工作所---受的功率密度确定的。因此，小焦点乃至微焦点的的射线源的使用功率或大电压都要比大焦点的射线源低。电子辐射发生器的共同缺点是x射线能谱的多色性，这种连续能谱的x 射线会引起衰减过程中的能谱硬化，导致各种与硬化相关的伪像。
一代ct使用单源(一条射线)单探测器系统，系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得n个投影值(1值)，被检物则按m个分度作旋转运动，被检物仅需转动180%。代ct机结构简单、成本低、图像清晰，但检测效率低，在工业ct中已经很少采用。
二代ct是在第代ct基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头，射线扇束角小、探测器数目少，因此扇束不能全包容被检断层，其扫描运动除被检物作m几个分度旋转外，射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物，得到所需的成像数据。
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