面探测器主要有三种类型：高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为ccd和cmos。ccd对x射线不敏感，表面还要覆盖一层闪烁体将x射线转换成ccd敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数，射线ct检测，像素尺寸可小到10微米左右，探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸，射线ct检测报价，一般直径在50mm以上。因为探测单元很小，信号幅度也很小，为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
低能射线部分其实并不能---地穿透材料，或是---不能。反而，低能射线会引起“射线硬化”而---地损害图像。这一现象在扫描较“重”或是厚度较大的材料是尤为---。为了除去射线中的低能部分，射线ct检测方案，会在工件之前放置射线过滤片。过滤片的作用是阻挡低能射线，但同时会降低图像的亮度。如果x射线管不能提供足够的功率，那就不得不---图像的亮度或是忍受较高的图像噪声，从而降低扫描。这样的话高功率射线管带来的好处就显而易见了，高品味的x射线可以通过过滤来获得，同时又不降低图像亮度，从而---了能够得到较高的扫描。
在高能电子束转换为x射线的过程中，仅有小部分能量转换为x射线，大部分能量都转换成了热，焦点尺寸越小，射线ct检测公司，阳极靶上局部功率密度越大，局部温度也越高。实际应用的功率是以阳极靶可以长期工作所---受的功率密度确定的。因此，小焦点乃至微焦点的的射线源的使用功率或大电压都要比大焦点的射线源低。电子辐射发生器的共同缺点是x射线能谱的多色性，这种连续能谱的x 射线会引起衰减过程中的能谱硬化，导致各种与硬化相关的伪像。
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