传统工业相控阵定量方法不具有角度、声程、晶片增益修正技术，多晶片探头通过楔块入射到工件内部时存在入射点漂移现象和能量分布变化。采用单一入射点校准方式与常规距离-波幅曲线修正，造成的扇形扫查区域中能量分布不均匀及测量误差等问题未能有效解决，相控阵---构，如图7 所示。而isonic-upa 相控阵设备具有角度补偿功能，能有效地解决此类问题。
所谓角度补偿就是针对不同的---法则，输入扇形扫查所需的角度范围及入射角度的增量后，相控阵探伤，晶片可以分别进行角度增益调整，也就是晶片角度增益修正。
有了角度增益补偿设置功能，可以取代传统的通过设置dac曲线的方法来补偿增益变化。在asme case2557 标准中明确---进行扇形扫描时要进行角度增益补偿。角度增益补偿曲线如图8所示，经过角度补偿后得到的等量化数据。
（1）相控阵的s扫：即同时拥有许多角度的超声波，相当于多种角度的探头同时工作，所以相控阵无需锯齿扫查，只要沿着焊缝移动探头即可，检测效率更高，适合自动化检测。
（2）相控阵的动态------：而常规超声波一般没有（除了---探头外），所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。
（3）相控阵检测可以同时进行b扫、d扫、s扫和c扫描，通过建模，缺陷显示非常直观。
（4）超声相控阵可以检测复杂形状的零件，比如可以检测叶片的叶根、螺栓、变径轴。
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