工业ct常用的扫描方式是平移—旋转(tr)方式和只旋转(ro)方式两种。只旋转扫描方式无疑具有更高的射线利用效率,可以得到更快的成像速度;然而,平移—旋转的扫描方式的伪像水平远低于只旋转扫描方式;可以根据样品大小方便地改变扫描参数(采样数据密度和扫描范围),---是检测大尺寸样品时其性明显;源—探测器距离可以较小,提高信号幅度;以及探测器通道少可以降低系统造价便于维护等。
平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体(如csi)的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm,平板尺寸大约45cm(18in)。读出速度大约3~7.5帧/s。优点是使用比较简单,没有图像扭曲。图像接近于胶片照相,工业ct检测报价,基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚,工业ct检测机构,对高能x 射线探测效率低;难以解决散射和窜扰问题,使动态范围减小。在较高能量应用时,必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kv以下的低能效果较好。
同位素辐射源的优点是它的能谱简单,消耗电能少,天津工业ct检测,设备体积小且相对简单,工业ct检测方案,而且输出稳定。但是其缺点是辐射源的强度低,为了提高源的强度必须加大源的体积,导致“焦点”尺寸增大。在工业ct中较少实际应用。
同步辐射本来是连续能谱,经过单色器选择可以得到定向的几乎单能的高强度x射线,因此可以做成高空间分辨率的ct系统。但是由于射线能量为20kev到30kev,实际只能用于检测1mm左右的小样品,用于一些特殊的场合。
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